XRF样品膜 TF-135-255
发布时间: 2021-11-17 19:41
美国Premier Lab Supply专注于X荧光光谱仪XRF样品制备领域,以高质量和全面的XRF样品制备产品享誉全球。
美国Premier Lab Supply的 XRF样品膜杂质含量极低,几乎不含痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测;厚度均匀,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,不溶于有机溶剂,不污染待测样品,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X荧光光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。XRF样品膜能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS & WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。
美国Premier Lab Supply的 XRF样品膜适用于各种品牌X荧光光谱仪:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。